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氧化鋁陶瓷的原晶粒度測(cè)定方法有哪些?

發(fā)布時(shí)間:2021-03-05 瀏覽:346次 責(zé)任編輯:深圳康柏新材料科技有限公司

    氧化鋁陶瓷經(jīng)過高溫煅燒相變制得氧化鋁陶瓷,而通常說的粒度值是指氧化鋁陶瓷體的顆粒大小,氧化鋁陶瓷的原晶粒度與粒度是觀點(diǎn)天壤之別的兩個(gè)術(shù)語。近年來,一些高等院校及研究單位均各自做一些研究,以求其測(cè)定要領(lǐng),誠(chéng)然有相干報(bào)導(dǎo),但都未公開技巧細(xì)節(jié)。那么氧化鋁陶瓷陶瓷的原晶粒度測(cè)定方法有哪些?下面由深圳康柏新材料廠家為大家分享:



    1.電子顯微鏡法


    以化學(xué)腐化與掃描電鏡相結(jié)合測(cè)定晶粒度的方法,該法既直觀又堅(jiān)固,是能反應(yīng)晶粒形貌、尺寸的有效方法,但設(shè)備投資大,剖析用度高。


    2.X射線衍射法


    重要是譜線寬化法,該法可測(cè)定擬薄水鋁石的晶粒度,但a氧化鋁陶瓷系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的,實(shí)驗(yàn)表明并不存在;款化效應(yīng);甚至因?yàn)榈V化劑的影響,造成衍射峰的強(qiáng)度與JCPDS卡片不一致,進(jìn)而影響到α氧化鋁定量剖析的正確性。


    3.氮吸附小比名義法


    對(duì)多孔活性物質(zhì)較適合,但因?yàn)閺母邷叵芦@得的a氧化鋁陶瓷燒結(jié)體是致密的,開氣孔跟閉氣孔均很少,液氮分子難以進(jìn)入晶粒的縫隙,因此測(cè)定的范疇是有限的,其測(cè)定晶粒度的誤差也較大,該法的原理限度了其產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。


    4.紅外光譜結(jié)構(gòu)剖析法


    因?yàn)樽V線接收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān),可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中,引入一種吸附帶面積積分儀,來算出均勻晶粒度。該法剖析的用品用量很少,對(duì)晶粒度散布范疇寬的樣品,如何獲得有代表性的樣品,還是客觀存在艱苦。


    5.研磨法


    早年美國(guó)鋁業(yè)公司的同行來中國(guó)時(shí)增提到過這種方法,在特定的容積內(nèi),以一定的料球比、固定研磨時(shí)光,再用粒度剖析儀測(cè)定破碎物料的晶粒散布及中位徑D50,并用這種方法來實(shí)現(xiàn)宏觀把持。


    氧化鋁陶瓷也稱氧化鋁陶瓷陶瓷,是由氫氧化鋁原料或產(chǎn)業(yè)氧化鋁經(jīng)高溫焙燒制得。它遍布應(yīng)用于耐火資料、磨料、陶瓷等諸多產(chǎn)業(yè)。